NF C96-022-35-2006 半导体装置.机械和气候试验方法.第35部分:用于塑封电子元件的声学显微方法

作者:标准资料网 时间:2024-05-04 00:10:44  浏览:8106   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Part35:acousticmicroscopyforplasticencapsulatedelectroniccomponents.
【原文标准名称】:半导体装置.机械和气候试验方法.第35部分:用于塑封电子元件的声学显微方法
【标准号】:NFC96-022-35-2006
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2006-12-01
【实施或试行日期】:2006-12-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:检查表;气候;气候试验;元部件;定义;电气工程;电学测量;电子工程;电子设备及元件;环境试验;误差检测;集成电路;机械试验;显微镜方法;塑料叠层板;半导体器件;半导体;试验;超声检验;超声传输技术;超声波学
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:22P;A4
【正文语种】:其他